雙板晶片止回閥的常見故障分析和結構改進

1。在實用工程應用中，損壞雙板晶片止回閥s 是由許多原因引起的。

（1）在培養基的影響力下，連接部分和定位桿之間的接觸面積太小，導致每個單位面積的壓力濃度，並且雙板晶片止回閥 由於壓力過多而損壞。

（2）在實際工作中，如果管道系統的壓力不穩定，則光盤之間的連接雙板晶片止回閥 定位桿將在定位桿周圍的一定旋轉角度來回振動，從而導致圓盤和定位桿。它們之間發生摩擦，這加劇了連接部分的損壞。

2。改進計劃

根據失敗形式 這雙板晶片止回閥，可以改善閥盤的結構以及閥盤和定位桿之間的連接部分，以消除連接部分的應力濃度，降低失敗的可能性雙板晶片止回閥在使用中，並延長檢查期。閥門的使用壽命。光盤的這雙板晶片止回閥 圓盤和定位桿之間的連接分別得到了改進和設計，並使用有限元軟件來模擬和分析，並提出了改進的方案來解決應力濃度問題。

（1）改善光盤的形式，在盤上設計凹槽止回閥 為了降低光盤的質量，從而改變了圓盤的力分佈，並觀察盤的力以及圓盤和定位桿之間的連接。力量狀況。該解決方案可以使閥盤的力更加均勻，並有效地提高了應力濃度雙板晶片止回閥。

（2）改善圓盤的形式，並在止回閥盤的背面進行弧形增厚設計，以提高圓盤的強度，從而改變盤的力分佈，從而使盤的力更加均勻，並提高閥門的蝴蝶檢查應力濃度。

（3）改善閥盤和定位桿之間的連接部分的形式，延長和增厚連接部分，並增加連接部分和閥盤背面之間的接觸區域，從而提高雙板板晶片止回閥的應力濃度。